累積氦氣檢漏儀 (CHLD)，用于密封包裝的單一檢漏系統(tǒng)，兼具質(zhì)譜儀專業(yè)知識與低溫超高真空技術(shù)。Pernicka 700H 的密封檢測方法優(yōu)于傳統(tǒng)的粗略泄漏和精細(xì)泄漏方法。此方法適用于包含氮?dú)?、氦氣、氬氣、氪氣、氙氣等氣體的任何密封設(shè)備，或可能因氦氣而“爆炸”的設(shè)備。Pernicka 700H 由板載計算機(jī)控制，便于分析密封對象和同步存檔檢測數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)庫提供歷史記錄，便于跟蹤生產(chǎn)量。

益處

• 靈敏度高，可檢測低至 4 x 10E-14 atm-cc/s 的泄漏率
• 將精細(xì)和粗略測試合并到一個操作中，使檢測過程更快、更有效
• 同時檢測 FC、氮?dú)?、氬氣、氙氣?
• 環(huán)保 - 無需有毒或有害材料
• 集成 LCD 監(jiān)視器提供簡便的操作
• 板載計算機(jī)提供實(shí)時數(shù)據(jù)讀取和記錄
• 簡單易用的工業(yè)設(shè)計
• 適合于符合 MIL-STD-750、方法 1071、程序 CH1-CH2、MIL-STD-883H、方法 1014 的檢漏方法

典型應(yīng)用

• 大型混合封裝
• 超小容積設(shè)備，例如 UB 封裝
• 高可靠性電子元件
• 可植入醫(yī)療器械
• 充氣電子組件

• 類型		Pernicka 700H CHLD Cumulative Helium Leak Detector
  氦氣（FINE 模式）*低可檢漏率	mbar?L/s	>4E-14
  氦氣（GROSS 模式）*高可檢漏率	mbar?L/s	>E-4
  可檢測質(zhì)量數(shù)		2-200
  內(nèi)置校準(zhǔn)測試漏孔	mbar?L/s	E-10
  測試端口		DN 16 CF
  真空泵系統(tǒng)		turbomolecular pump, oil sealed roughing pump, cryo pump
  電源電壓單位	V (ac)	110/120 ( 50/60Hz) 15A
  電源電壓單位	V (ac)	110/120 ( 50/60Hz) 15A
  電源電壓低溫壓縮機(jī) （氣冷）	V (ac)	208-240 (50/60 Hz)10A
  環(huán)境條件		Indoor use only
  工作溫度	°C                                               °F	15-28
  重量	kg                                               lb.	245
  尺寸（寬x高x深）	mm                                               in.	660x1390x870

 E39-L167  E39-L168  E39-L180  E39-L181  E39-L185  E39-L186  E39-L187  E39-L188  E39-L190  E39-S39  E39-S61  E39-S63  E39-S64  E39-S65A  E39-S65B  E39-S68  HI83209  E39-S76A  HI83208  E39-S76B  E39-VA  HI4521C  HI9143  ZW-S07  HI88703  HI83749  HI98501  ZW-S20  ZW-S30  ZW-S40  HI98517  ZW-CE10  ZW-CE15  ZW-XF02R  ZW-XF05R  HI935007  ZW-XF10R  HI3131B  ZW-XF20R  ZW-XF30R  ZW-XFC  ZW-XCP2E  ZW-XRS2   ZW-XPT2